铂悦仪器（上海）有限公司

圆柱度仪MMQ400-2

MMQ400-2MarForm MMQ 400-2有5种设计版本，以满足您的需求，因此可以实现对每一个测量任务的优化设计：带自动，或手动，调平调心工作转台配500mm,或900mm垂直Z轴，280mm水平X轴配350mm垂直Z轴，和180mm水平X轴... ...

圆柱度仪MMQ200

MMQ200高精准度的标测量轴（C）电机驱动的垂直测量轴(Z)电机驱动的水平定位轴（X）手动调平调心工作台手动的T20W测头人体工学的操作面板，可一键启动相应的测量程序（P1，P2,P3)可立即了解产品误差减少重复工作... ...

数显高度测量仪 816CL

数显高度仪 德国马尔数显高度测量仪 816CL测量系统：带双读头的光栅测量系统出色的及稳定性动态的测量系统高重复性气浮系统使测量仪的移动更为轻便与平滑精密的测头运行于不锈钢导轨上马达驱动测量滑... ...

数显高度测量仪 817CLM

德国马尔数显高度测量仪 817CLM 高的测量及性的光栅测量系统及双读头，将灰尘对测量结果的影响降至。优质不锈钢制成的导向立柱。由精密的球轴承导向测头的运行。内置的温度传感器配合完成... ...

粒子成像测速系统firefly PIV and Imaging Laser

紧凑的成像光源.粒子成像测速理想的选择主要优势紧凑、坚固的激光头简易的相机集成系统水性能– 没有溅保护装置风冷全电脑控制粒子成像测速理想的选择适合三维粒子成像测速300W Firefly laser含... ...

粒子成像测速系统Visivector PIV system

PIV Systems流体流动矢量分析系统研究操作说明书：Visivector PIV系统可测量流体流量的速度，因此可用在航天航空领域。The Firefly laser使得流量测定的安装变的容易。内置的光片内置光电照明的发电机使得你... ...

电镜样品切片机

仪器简介：彩色触屏控制器显示操作EM UC6切片机用户可左手/右手操作。有三组LED照明共七种组合，光亮度可调。选用中心式移动显微镜，方便对玻璃刀/钻石刀,方便低水位常温/冷冻切片。全马达操控刀台，东西方向... ...

光镜样品切片机

仪器简介：手动轮转切片机，强耐用，高精准性，使用舒适。 粗进轮的位置更接近操作者，合人体工程学设计。使用舒适。粗进轮的旋转方向可在订货时根据客户的需求来选择顺时针和逆时针方向。 E型刀架带有红... ...

智能数字全自动正置金相显微镜（material Microscope）仪器简介

仪器简介： 全自动智能数字式正置金相显微镜，适合金属、陶瓷、高分子材料、电子元器件,粉尘颗粒、等样品的观察分析模块化设计，可实现反射观察、透反射观察配置复消色差光路，整体光路支持25视域6孔位电动物... ...

Inspect F50场发射扫描电子显微镜

详细信息仪器简介： 在结构研究中, 大量的样品需要在高放大倍数、更多细节的水平上进行观察和分析。同时, 随着样品种类的不断增多(如: 低原子序数材料, 不导电材料等), 需要扫描电子显微镜提供优异的低加速电压性... ...

Inspect S50扫描电子显微镜

技术参数：1.电子：高亮度、方便维护的钨灯丝电子2.分辨率:　二次电子:　　高真空模式 3.0nm @ 30kV; 8nm @ 3kV　　高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项)　　低真空模式 3.0nm @ 30kV; 10nm @ 3kV　背散射电子... ...

S2 PICOFOX全反线X射线荧光光谱仪

全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF） X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF分析法可以： 根据荧光的波长和能量，确定元素； 各元素的浓度可根据荧光的强度... ...

M1 MISTRAL 紧凑型台式μ-XRF光谱仪

M1 MISTRAL是一款紧凑型的台式 µ-XRF光谱仪，用于分析块状材料和涂层。它的操作速度快、具成本效益， 可以提供与材料元素成分有关的准确信息。该仪器具备高空间分辨率，光斑大小 100微米。它可以分析... ...

台式直读光谱仪FOUNDRY-MASTER Xline

点:牛津仪器通过采用新研发的数字火花发生器，可以通过基于Windows的软 操作系统自动选择优的样品激发参数。高分辨率的多CCD分光系统使用了真空技术，可以检测从165nm到780nm的谱线，这样就可以精准... ...

表面测量仪器与系统MarsurfCNC

表面测量仪器与系统MarsurfCNC全自动的表面粗糙度和轮廓度测量成为目前的一个趋势。将传感器定位于小型工件的测量点位置时，通过移动或旋转工件来实现。对于大型或较长和重的工件，的方法是通过移动测量系统... ...

表面测量仪器与系统MarSurf S2

表面测量仪器与系统MarSurf S2依照现行标准可实现粗糙度和波度测量重量轻（不包括内置充电电池）高分辨率的图形显示，可清晰显示测量结果和轮廓基于自动测量原理和多测量元素，使得操作简单通过内置热敏打印机，... ...

表面测量仪器与系统Marsurf M1

表面测量仪器与系统Marsurf M1 设备提供合DIN EN ISO/AMSE/prEN 10049的大部分参数（Ra,Rz,Rmax,and RPc)和JIS日本标准参数（Rz,Ra).Perthometer M1 提供许... ...

Quanta FEG系列场发射环境电镜

仪器简介： Quanta FEG系列场发射环境扫描电子显微镜是FEI公司的新产品之一。是在FEI公司产品XL30 EM-FEG场发射环境扫描电子显微镜的基础上发展而来的。Quanta FEG场发射环境扫描电子显微镜综合场发射电... ...

属含量检测仪

全反射X射线荧光光谱仪的工作原理（TXRF） X射线荧光光谱分析法(XRF)的原理：原子受原级X射线激发后，发出次级X射线荧光。因此，XRF分析法可以： 根据荧光的波长和能量，确定元素； 各元素的浓度可根据荧光的强度... ...

X-Max面积能谱探头

详细信息 牛津仪器已成功研发出TEM用大面积电制冷能谱系统X-Max。探头的晶体面积为80mm²，具有比大面积Si（Li）探头更高的计数率而无需液氮。配合的INCAEnergy TEM软件，X-Max进一步TEM的分析... ...